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测试系统介绍:
焦平面测试系统可以完成对红外、CCD、CMOS线阵、面阵探测器的测试，系统可以完成探测器的光电特性、光谱特性、关学特性等多个方面的评价。同时也可通过可视成像评价系统对芯片本身进行成像。
整套系统实现了软件控制、软件分析、系统编程的强大的软件支持功能。该测试系统满足最大像元为2048x2048以下的线阵和面阵焦平面测试的需要。
该系统结构由美国著名的Pulse Instruments公司设计，主要由时钟驱动、直流偏压、数据采集、图形发生、前置放大器，具有低噪音、高精度的特点。该系统曾成功应用于美国哈勃望远镜CCD焦平面测试。
可完成测试焦平面的材料
MCT(HgCdTe),
InSb, PtSi, QWIP, AiGaAs, GaAs, InGaAs, InAiAs,
InGaAs/Inp,InGaAsP/Inp, GaAs/GaInp, GaAs/AlInP, VOx,
其它材料的器件
可测试焦平面的类型：
制冷、非制冷、线阵、面阵、
可完成测试指标：
与黑体配合可完成各项红外器件测试指标
与可见光源配合可完成各项CCD器件测试指标
焦平面测试系统结构图
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